WEP064 　ポスター①　 7月31日 3F研修室A 13:00-15:00

時空間的に収束したイオンビームによる固体からのX線放出現象解明のための装置設計

Design for the clarification of X-ray emission phenomena from solids by spatio-temporally focused ion beams

○岡野 朱莉，大石 沙也加，劉 暢，熊谷 嘉晃，石井 邦和（奈良女子大学），ヂン タンフン，榊 泰直，小島 完興（量子科学技術研究開発機構）

○Akari Okano, Sayaka Oishi, Chang Liu, Yoshiaki Kumagai, Kunikazu Ishii (NWU), Thanh Hung Dinh, Hironao Sakaki, Sadaoki Kojima (QST)

レーザー技術の発展により、レーザー駆動イオン加速器は近年注目を集めている。レーザー駆動によるイオンビームは、一般的な加速器のビームと性質が極端に異なる。一般的な加速器のイオンビームは直流電流ビームで1秒間に10^8〜10^10個程度であるのに対し、レーザー駆動のイオンビームは1ナノ秒程度の時間幅のパルスビームで同程度のイオン個数となる。この超短パルスイオンビームを物質に照射すると、大量のX線が放出されることが予測できる。 　X線の放出現象を用いた分析手法として、蛍光X線分析（XRF）やX線回折法（XRD）、粒子誘起X線発光（PIXE）などが有名である。例えばPIXEでは、物質に陽子やヘリウムイオンなどのビームを照射すると、原子の内殻電離によって、その物質固有のX線が発生する現象を利用する。放出された特性X線を半導体検出器で測定することで、物質中に含まれている元素の量を求めることができる。 　そこで、時空間的に集光されたレーザー駆動イオンビームを物質に照射した際、一般的な加速器のイオンビームと比較して、特性X線がどのように変化するのかに着目する。本報告では、レーザー駆動イオンビームとタンデム加速器によるイオンビームを照射したターゲットからのX線放出現象を比較するための実験装置の設計について述べる。