THP063 　ポスター②　 8月1日 3F研修室A 13:00-15:00

J-PARC 3 GeVシンクロトロン入射ダンプの二次粒子フラックス評価

Evaluation of the secondary particle flux at the injection dump of J-PARC 3 GeV Rapid Cycling Synchrotron

○山本 風海，中野 秀仁（日本原子力研究開発機構　J-PARCセンター），松本 哲郎（産業技術総合研究所 ）

○Kazami Yamamoto, Hideto Nakano (J-PARC Center, Japan Atomic Energy Agency), Tetsuro Matsumoto (National Institute of Advanced Industrial Science and Technology)

J-PARC 3GeVシンクロトロン(RCS)は、1 MWの大強度ビームを物質生命科学実験施設および主リングシンクロトロンに供給している。RCS内に大強度ビームを蓄積する際、リニアックで加速したH^-ビームから電子を二個剥ぎ取り陽子に変換して入射しているが、一部のビームは変換されずに入射ダンプに廃棄される。ダンプ内部はこの廃棄ビームによって二次粒子が飛び交うことになるので、それを照射試験場として使用できないか、検討を行っている。本報告では、Phitsを用いた計算およびビスマス試料を放射化させゲルマニウム半導体検出器で測定した結果を比較する。