THP011 　ポスター②　 8月1日 1F大会議室 13:00-15:00

突発ビームロス事象解明のためのターン毎ビームサイズモニター開発

Development of turn-by-turn beam size monitors for disentangling of sudden beam loss events

○三塚 岳，石田 孝司，岩渕 周平（高エネ研）

○Gaku Mitsuka, Takashi Ishida, Syuhei Iwabuchi (KEK)

SuperKEKB加速器の高ルミノシティ化を妨げる最大の障壁が突発ビームロス事象である。突発ビームロス事象とは前兆無く発生するビームロス事象であり、たった数ターン、つまり数十マイクロ秒以内にビーム電流の半分程度がロスしてしまう。現在、突発ビームロス事象がなぜ、どのように、どの条件で発生するのか、全く未解明である。 我々は突発ビームロス事象の発生メカニズムを解明するため、ターン毎ビームサイズモニター開発し、突発ビームロス事象発生時のサイズ変動を測定している。本発表では超高速CMOSカメラを用いたビームサイズモニターの開発、および突発ビームロス事象発生時のサイズ変動を報告する。