FRP006 　ポスター③　 8月2日 1F大会議室 10:00-12:00

重イオンビーム照射によるSiCセンサーワイヤー試験 (2)

SiC sensor wire test by heavy ion beam irradiation (2)

○明午 伸一郎，山口 雄司（J-PARC/JAEA）

○Shin-ichiro Meigo, Yuji Yamaguchi (J-PARC/JAEA)

30 MWを超える大強度陽子加速器加速器を用いた、加速器駆動型核変換システム(ADS)が原子力機構(JAEA)で開発が進められている。核破砕中性子源においても、1 MWを超えるマルチMWの施設が提案されていおり、これらの施設において安定に入射するためには、ビームが正しく標的に入射していることを確認するプロファイルモニタが重要となる。J-PARCの核破砕中性子源では炭化ケイ素(SiC)のマルチワイヤからなるプロファイルモニタを用いており、約1 MWの利用運転では問題ないものの、今後の定常的な大強度運転ではワイヤの損傷が著しくなるものと考えられるため、ワイヤの損傷評価を定量的に行う事が重要となる。我々はモニタの開発の一環として、量子機構(QST) TIARAおよびJAEA タンデム加速器において、はじき出し損傷が数GeV陽子に比べ著しく高い重イオンビームを用いたビーム試験を実施した。JAEA タンデム加速器では様々なイオンビームを用いて、表面におけるLET依存性に関して調査を開始した。本発表では、この結果について報告する。