WEP27 　ポスター②　 8月30日 14号館1432教室 13:30-15:30

GeV領域エネルギー電子を使った測定器開発用テストビームラインのワイヤーターゲットがPF-ARの蓄積ビームおよび入射ビームに与える影響（２）

Effect of the GeV-range test beamline wire target on the stored and injected beams at KEK PF-AR (2)

○高木 宏之，満田 史織，本田 融，内山 隆司，坂中 章悟，佐々木 洋征，谷本 育律，内藤 大地，中村 典雄，長橋 進也，野上 隆史，山本 尚人，池上 陽一，宇野 彰二，佐藤 康太郎，外川 学，中村 勇，花垣 和則，幅 淳二，森 隆志（KEK），安部 草太，寺村 七都，前田 順平（神戸大理），小田川 高大（京大理），鷲見 一路，前田 朱音（名大理）

○Hiroyuki Takaki, Chikaori Mitsuda, Tohru Honda, Takashi Uchiyama, Shogo Sakanaka, Hiroyuki Sasaki, Yasunori Tanimoto, Daichi Naito, Norio Nakamura, Shinya Nagahashi, Takashi Nogami, Naoto Yamamoto, Yoichi Ikegami, Shoji Uno, Kotaro Satoh, Manabu Togawa, Isamu Nakamura, Kazunori Hanagaki, Junji Haba, Takashi Mori (KEK), Sota Abe, Natsu Teramura, Jumpei Maeda (Kobe Univ.), Takahiro Odagawa (Kyoto Univ.), Kazumichi Sumi, Akane Maeda (Nagoya Univ.)

蓄積リング内に設置したインターナルターゲットによる制動放射を利用してGeV領域エネルギー電子を生成し、素粒子原子核実験用測定器開発に利用するためのテストビームラインがKEK PF-ARに建設された。現在、PF-ARでは放射光利用とテストビームライン利用が同時に運用されている。今回の発表では、テストビームライン用のターゲットワイヤーが蓄積ビームおよび入射ビームに与える影響を粒子トラッキングを用いて評価したので報告する。