WEP024 　ビーム診断・ビーム制御　 8月11日 会議室P 13:10 - 15:10

J-PARCハドロンhigh-p ビームライン用高感度残留ガスプロファイルモニタの電場解析

Electric field simulation of high sensitivity residual gas ionization profile monitor for J-PARC hadron high-p beamline

○上利 恵三，里 嘉典，豊田 晃久，森野 雄平，小松 雄哉，秋山 裕信（高エネルギー加速器研究機構）

○Keizo Agari, Yoshinori Sato, Akihisa Toyoda, Yuhei Morino, Yusuke Komatsu, Hironobu Akiyama (KEK)

J-PARCハドロン実験施設のBライン（高運動量ビームライン）のプロファイルモニタとして高感度残留ガスプロファイルモニタを開発している。このモニタはビーム通過により残留ガスで生じた電離電子を蛍光体によりバックグランドの低い光に変換し、光増幅してビームプロファイルを測定する。電離電子を加速させ蛍光体に当て、水平方向のビームプロファイルを測定するために、水平方向には一様で、鉛直方向に段階的に変化する電圧分布を与える必要がある。そこで今回は有限要素法シミュレーションソフトウェアによりビームが通過する周辺の構造モデルを構築、電圧分布を計算することにより、プロファイル測定に必要な空間一様性を得られる最適な構造を得た。