WEP022 　ハドロン加速器/ビームダイナミクス・加速器理論　 8月11日 会議室P 13:10 - 15:10

伸長ワイヤー法による縦方向結合インピーダンス測定値の因果律による吟味

Evaluation by causality for measurement data of longitudinal coupling impedances with stretched-wire method

○外山 毅（KEK/J-PARC），菖蒲田 義博（JAEA/J-PARC），小林 愛音（KEK/J-PARC）

○Takeshi Toyama (KEK/J-PARC), Yoshihiro Shobuda (JAEA/J-PARC), Aine Kobayashi (KEK/J-PARC)

J-PARC MR において、遅い取出しモードのフラットトップでデバンチ時にマイクロバンチ構造が発生し問題となっている。一方、速い取出しモードのフラットトップで縦方向位相空間でのバンチ操作・整形によりピーク電流を低減する方法が議論されている。ここでもマイクロバンチ構造発生の可能性が問題となってくる。これらのマイクロバンチ構造（マイクロウェーブ・インスタビリティ）発生の原因を明らかにして、対策を講じるための第一歩として、J-PARC MR のビーム結合インピーダンスを評価している。本報告では、その中で、J-PARC MR の主要な機器（キッカー、セプタム、RF空洞）に関するビーム結合インピーダンスの伸長ワイヤー法による測定結果を示す。特に、取得した縦方向インピーダンスの実部と虚部のヒルベルト変換（因果律）の確認によるデータの信頼性評価について述べる。