TUP024 　ビーム診断・ビーム制御　 8月10日 会議室P 12:50 - 14:50

J-PARC Main Ring の入射ビームのための OTRと蛍光を用いたワイドダイナミックレンジプロファイルモニターの開発 (2)

Development of a Wide Dynamic-Range Beam Profile Monitor Using OTR and Fluorescence for Injected Beams in J-PARC Main Ring (2)

○橋本 義徳，佐藤 洋一，外山 毅，三橋 利行，中村 剛（KEK/J-PARC），酒井 浩志（三菱電機システムサービス），手島 昌己，魚田 雅彦（KEK/J-PARC）

○Yoshinori Hashimoto, Yoichi Sato, Takeshi Toyama, Toshiyuki Mitsuhashi, Takeshi Nakamura (KEK/J-PARC), Hiroshi Sakai (Mitsubishi Electric System & Service Co., Ltd.), Masaki Tejima, Masahiko Uota (KEK/J-PARC)

J-PARCメインリング (MR) の入射ビーム輸送ライン（3-50BT）で、OTRおよび蛍光スクリーンを使用した、6桁程度の広いダイナミックレンジを持つ2次元ビームプロファイルモニターが運用されている。さらに同様の1台をMR用として導入できれば、3-50BT用のモニターと併せて使用することにより、大強度陽子ビームの入射時のコアとハローを異なる位相で診断することができる。特にビームコリメータによるビームカット効果の測定とその情報が得られることは、大強度ビームの成形によるビーム損失エリアの局所化に有効である。MR用では、さらに入射後の周回ビーム20ターン程度のビームハローを含む2次元ビームプロファイル測定もビームダイナミクスからの要求である。 現在テストベンチでの特性試験が行われている。装置の構造において、特に真空内光学系とターゲット部での高周波共振に起因する、Z/n の値で10 Ω近い縦方向カップリングインピーダンスが問題になっている。その対策としてSiC を用いてのビームウェークによる1 GHz程度までの共振時の高周波の吸収を検討している。シミュレーションでは、0.8 Ω程度以下までインピーダンスを低減できる結果を得たので、今夏には、実際にSiC ブロックを導入しての高周波吸収によるインピーダンス低減の評価を開始する。本報告ではそれらの現状を紹介する。