THOO05 　ビーム診断・制御①　 9月3日 講演会場１ 10:40-11:00

電気光学サンプリングによる電子ビーム周りのテラヘルツ電場計測

Measurement of terahertz electric field around electron beam using electro-optic sampling

○菅 晃一（阪大産研），太田 雅人，中嶋 誠，有川 安信，清水 智貴，瀬川 定志，坂和 洋一（阪大レーザー研），駒田 蒼一朗，松井 龍之介（三重大）

○Koichi Kan (ISIR, Osaka University), Masato Ota, Makoto Nakajima, Yasunobu Arikawa, Tomoki Shimizu, Sadashi Segawa, Youichi Sakawa (ILE, Osaka University), Soichiro Komada, Tatsunosuke Matsui (Mie University)

阪大産研では、レーザーフォトカソードRF電子銃ライナックを利用し、高時間分解パルスラジオリシスによる反応解析および電子ビーム発生・計測の研究を行っている。このようなピコ秒・フェムト秒における電子の時間構造の計測手法は、電子ビームを利用した時間分解計測のみならず、慣性核融合分野においてもプラズマの温度・密度ダイナミクスを理解する観点から、必要となっている。 本発表では、電気光学（EO, Electro-optic）結晶を用いた電子ビームの時間分布計測（35 MeV）について報告する。電子ビームの水平位置を変化させながら、電気光学結晶（ZnTe (110), 厚1 mm）および適宜光学遅延したフェムト秒レーザーを用いて、電子ビームの周りのテラヘルツ電場の計測を行った。当日は、測定結果（テラヘルツ電場分布、照射効果等）の解析について報告する。