WEPI030 　ビーム診断・ビーム制御　 7月31日 国際科学イノベーション棟5階 ホワイエ 13:30-15:30

大強度陽子加速器のための標的上のプロファイルモニタの開発

Research and development profile monitor at target for the high-intensity proton accelerator

○明午 伸一郎（J-PARC/JAEA）

○Shin-ichiro Meigo (J-PARC/JAEA)

30 MWを超える大強度陽子加速器加速器を用いた、加速器駆動型核変換システム(ADS)が原子力機構(JAEA)、ベルギーや中国等で提案されている。核破砕中性子源においても、1 MWを超えるマルチメガWの施設が提案されている。これらの施設において安定に入射するためには、標的にビームが正しく入射していることを確認する、プロファイルモニタが重要となる。J-PARCの核破砕中性子源では炭化ケイ素(SiC)のマルチワイヤからなるプロファイルモニタを用いており、0.5 MWの定常運転及び1 MWの試験運転では問題ないものの、今後の定常的な大強度運転ではワイヤの損傷が著しくなるものと考えられるため、ワイヤの損傷評価を定量的に行う事が重要となる。このため、我々はプロファイルモニタの開発の一環として、量子機構(QST)のTIARAにおいて運動エネルギ 105 MeVのアルゴンビームを用いたビーム試験を実施した。ビームの二次元分布を得るため、蛍光型のプロファイルモニタの試験を行った。蛍光体として、候補となるクロムをドープしたアルミナや純アルミナ等の物質を用い、ビーム入射に伴う発光量を測定した。クロムを0.5%程度ドープした試験体は発光量は多いものの、長波長の発光量の減少が著しいことが観測された。不純物としてわずかにクロムがドープされた場合には、発光量が小さいものの発光量の減少はほとんど観測されなかった。