WEPI026 　ビーム診断・ビーム制御　 7月31日 国際科学イノベーション棟5階 ホワイエ 13:30-15:30

J-PARCハドロンhigh-p ビームライン用高感度残留ガスプロファイルモニタの開発

Development of high sensitivity residual gas ionization profile monitor for J-PARC hadron high-p beamline

○豊田 晃久，青木 和也，上利 恵三，秋山 裕信，家入 正治，加藤 洋二，倉崎 るり，里 嘉典，澤田 真也，白壁 義久，高橋 仁，田中 万博，広瀬 恵理奈，皆川 道文，森野 雄平，山野井 豊，渡辺 丈晃（KEK）

○Akihisa Toyoda, Kazuya Aoki, Keizo Agari, Hironobu Akiyama, Masaharu Ieiri, Yohji Kato, Ruri Kurasaki, Yoshinori Sato, Shinya Sawada, Yoshihisa Shirakabe, Hitoshi Takahashi, Kazuhiro Tanaka, Erina Hirose, Michifumi Minakawa, Yuhei Morino, Yutaka Yamanoi, Hiroaki Watanabe (KEK)

J-PARCハドロン実験施設に現在建設中のhigh-pビームラインは、現在稼働中のAラインの一次陽子ビームの一部を分岐させ使用するビームラインである。このビームラインは分岐部で削り出すのでビームロスがあり、放射線レベルは高い。しかし、輸送するビーム強度は比較的低いため、高感度でかつ放射線耐性の高いプロファイルモニタが必要となる。そこでビーム通過により残留ガスで生じた電離電子をバックグランドの低い光に変換し、光増幅してプロファイルを測定するモニタを考案した。現在は実用化に向けてR&Dを進めている段階である。今回の発表では信号およびバックグランド量の評価、電離電子加速用電極の設計および試験、光伝送する光学系の検討、および将来の展望などについて発表する。