THPI034 　粒子源　 8月1日 国際科学イノベーション棟5階 ホワイエ 13:30-15:30

高周波負水素イオン源から引き出されたH-ビームの揺動

Fluctuation of H- beam extracted from a radio-frequency driven H- ion source

○神藤 勝啓（J-PARC／原子力機構），柴田 崇統（J-PARC/高エネ研），和田 元（同志社大学）

○Katsuhiro Shinto (J-PARC/JAEA), Takanori Shibata (J-PARC/KEK), Motoi Wada (Doshisha Univ.)

J-PARCやSNSなどの大強度陽子加速器施設で用いられている負水素イオン源（H-イオン源）では、2MHzの高周波（RF）を用いてイオン源チェンバー内にプラズマを発生し、ピーク電流で数10 mAのH-ビームを生成している。このような大強度RF H-イオン源では、イオン源内のイオン密度が高いためビーム引出領域近傍のイオンシースがRFに追随し、プラズマの電位搖動が生じる。その結果、イオン源より引き出されたH-ビームは揺らぎを持つと考えられる。そこで、イオン源内で生じているプラズマ波動現象が引き出されたH-ビームに与える影響を調べるために、イオン源より引き出されたH-ビームのエミッタンスの揺らぎや、イオン源チャンバー内のプラズマの揺らぎについて測定を進めてきた。本発表では、それらの測定結果について報告する。