THPH011 　LLRF　 8月1日 百周年時計台記念館 国際交流ホール 13:30-15:30

J-PARCリニアック高周波機器の湿度依存性の試験

Investigation into Humidity Characteristics of RF Devices at J-PARC Linac

○二ツ川 健太，方 志高，福井 佑治（高エネルギー加速器研究機構），篠崎 信一，平根 達也（日本原子力研究開発機構），佐藤 福克（日本アドバンストテクノロジー株式会社）

○Kenta Futatsukawa, Zhigao Fang, Yuji Fukui (KEK), Shinichi Shinozaki, Tatsuya Hirane (JAEA), Yoshikatsu Sato (NAT)

J-PARCのリニアックの出射の運動量の中心値が湿度に依存して変動していることが明確になった。これは、リニアックの高周波機器が湿度に応じて変動していることを示唆していることになる。高周波機器が設置されているクライストロンギャラリでは、温度変動を27±2℃になるように制御しているが、湿度に関しては特に制御されていない。その結果、ギャラリ内の相対湿度は年間で約15%から65%まで変動している。そこで、リニアックの様々な高周波機器及び高周波ケーブルなどの湿度依存性を測定して、対策の優先順位とその方法を検討することにした。対策としては、一部の高周波基板に防湿スプレーを吹き付けて前後で湿度依存性の変化を測定したが、芳しい結果は得られていない。また、高周波基準信号発生器が実装されているラックに関しては、精密空調器を導入して運用を開始している。現状では対策が追いついているとは言えないが、議論や方針を検討するための基本データは揃いつつある。本件では、現状と今後の対策に関して発表する。