FRPI047 　粒子源　 8月2日 国際科学イノベーション棟5階 ホワイエ 10:50-12:50

ビーム・プラズマシミュレーションにおける粒子発生の取り扱い

Particle emission in chaged particle dynamics simulation

○菅野 浩一（株式会社エーイーティー）

○Koichi Kanno (AET, Inc.)

荷電粒子はいくつかの発生機構に従って固体や気体から空間中に放出され、その放出特性はその発生機構と放出源の材質特性や状態などの様々な条件に依存する。例えば、ビーム応用装置の性能を左右する電子銃やイオン源、二次粒子の発生が問題になるビームコレクタやターゲット、常に粒子衝突反応が起きているプラズマ装置、特定の条件でおきる放電現象などの議論においては特に考慮が必要である。このことはビームやプラズマに関する荷電粒子シミュレーションにおいても同様で、可能な限りモデルとして模擬されることが求められる。本発表では、最先端のシミュレーションソフトウェアにおけるこれらの粒子発生モデルとその応用例について述べる。