FRPI045 　粒子源　 8月2日 国際科学イノベーション棟5階 ホワイエ 10:50-12:50

重粒子線がん治療用小型EBISの蓄積電子数測定

Measurement of trapped electron number on a new compact EBIS for heavy-ion cancer therapy

○河村 兼成，林崎 規託（東工大），片桐 健（量研/放医研），佐藤 大輔（産総研），涌井 崇志，村松 正幸，北條 悟（量研/放医研）

○Kensei Kawamura, Noriyosu Hayashizaki (Tokyo Tech), Ken Katagiri (QST/NIRS), Daisuke Sato (AIST), Takashi Wakui, Masayuki Muramatsu, Satoru Hojo (QST/NIRS)

重粒子線がん治療において、数種類のイオンを用いた照射により治療効果の向上を目指す、マルチイオン照射法が検討されている。全国に広がりつつある普及型重粒子線がん治療装置によりこの照射法を行うためには、４種類の軽イオン(He, C, O, Ne)の切り替えが素早く行え、かつ既存の治療施設に導入できる程度に小型でなければならない。これらの課題を解決するため、従来重元素多価イオン生成に用いられてきた電子ビーム型イオン源(Electron Beam Ion Source：EBIS)を軽イオン生成に特化させ、普及型小型イオン源の1/4程度となる新たなイオン源の開発が進められている。本発表では、この小型EBISで生成可能なイオン数を決めるための蓄積電子数の測定について報告する。