FRPI020 　光源加速器　 8月2日 国際科学イノベーション棟5階 ホワイエ 10:50-12:50

産研THz-FELにおけるEO計測の周波数解析

Frequency analysis for the EO sampling measurement of THz-FEL at ISIR

○川瀬 啓悟（QST），誉田 義英，磯山 悟朗（阪大産研）

○Keigo Kawase (QST), Yoshihide Honda, Goro Isoyama (ISIR, Osaka Univ.)

大阪大学産業科学研究所のテラヘルツ自由電子レーザー(THz-FEL)の時間構造を計測するのために、加速器高周波と同期したチタンサファイアレーザーを用いた電気光学(EO)サンプリング計測を実施している。これまでのところ、EOサンプリング信号にはショットごとの変動が見られているが、パルストレイン内の変動には特定の変動周期が現れている。この物理的要因を究明するために、様々な動作条件でのEO計測信号に対して周波数解析を実施している。本発表では、この研究に関する概要と現状を報告する。