WEP089 　ビーム診断・ビーム制御　 8月8日 大展示ホール 13:10 - 15:10

J-PARC MRフォトダイオードビームロスモニタのガンマ線を用いた耐放射線性試験

Gamma ray irradiation test of photo-diode based beam loss monitor for J-PARC MR

○佐藤 健一郎（J-PARCセンター/高エネ研）

○Kenichirou Satou (J-PARC/KEK)

J-PARC MRではバンチ振動によるビームロスを精度よく測定するために、フォトダイオード（ＰＤ）を用いたビームロスモニタ（ＢＬＭ）を開発している。ビームロス起因の放射線が増幅回路等電子機器に影響を与えることが知られているために、J-PARCでは誤動作を避けるために、できる限り信号増幅回路等の電子機器は加速器トンネル内に設置していない。しかし本モニタにあっては高速動作を実現するために、回路基板にＰＤとともに信号増幅用のアンプ回路を実装した。回路には放射線に比較的耐性があるとされる高hFEバイポーラジャンクショントランジスタで電流増幅回路を構成し、ＰＤからの微弱電流を増幅している。また、バイアス電圧は地上階の制御室から供給できるように設計した。１本の同軸ケーブルでバイアス供給と信号伝送を同時に行えるため、簡便に設置が可能である。 放射線によるTotal dose効果を評価するためにQST高崎研のコバルト60ガンマ線照射施設を利用して照射実験を実施した。試験では増幅回路に利用したトランジスタ素子、電圧レギュレータおよび検出素子であるＰＤを照射し、使用環境下での回路寿命を評価した。 発表では開発した装置の紹介と照射実験の結果を報告する。