WEP088 　ビーム診断・ビーム制御　 8月8日 大展示ホール 13:10 - 15:10

スリット-ハープ装置による4次元エミッタンス評価の試験

Preliminary results of four-dimensional emittance estimation using slit-harp device

○柏木 啓次，宮脇 信正，倉島 俊（量研 高崎）

○Hirotsug Kashiwagi, Nobumasa Miyawaki, Satoshi Kurashima (QST Takasaki)

TIARA AVFサイクロトロンでは、材料・バイオ研究等のために様々な軽・重イオンビームを頻繁に切り替えて提供している。このビーム切り替えに伴うビーム入射調整を効率的に行うため、入射ビームのエミッタンスとサイクロトロンのアクセプタンスの計測に基づいた入射調整方法を開発している。入射ビームラインのエミッタンス測定は主に比較的高速で測定できるスリット-ハープ装置で行っているが、測定されるエミッタンスは水平・鉛直方向それぞれの2次元エミッタンスである。ソレノイド電磁石を含む入射ビームラインにおけるビーム制御を行うためにはビームの4次元エミッタンスの情報が必要である。そこで、水平・鉛直各エミッタンス測定用のスリットおよびハープを組み合わせたエミッタンス測定を基に4次元エミッタンス情報を得る方法を開発している。本発表では本方法の試験結果について報告する