WEP056 　加速構造　 8月8日 大展示ホール 13:10 - 15:10

超伝導加速管の非破壊検査装置開発

Development of nondestructive inspection device for superconducting cavity

頓宮 拓，○岩下 芳久（京大化研）

Hiromu Tongu, ○Yoshihisa Iwashita (Kyoto ICR)

京都大学では高エネルギー加速器研究機構との共同研究で超伝導加速空胴の非破壊検査装置の開発を行なってきた。超伝導加速管の性能測定（縦測定）時における発熱箇所の検出、及び、フィールドエミッションにより発生したX線検出マッピングによる局所的欠陥の探索、は有効な非破壊検査方法であり、他研究施設でも運用されている。 我々が開発したX線、温度マッピングシステムは各センサーの出力は極低温下で動作する回路を採用した信号多重化によるスキャニング、および、各基板のデイジーチェーン接続により必要な信号線数が激減させ、実装の簡略化に成功している。しかしながら、アナログアンプとして用いたCD4069 CMOSインバータのオフセット電圧が温度依存性を持つため、ダイナミックレンジが減っている。本発表では非破壊検査装置の現状とアンプの温度ドリフト対策についての結果を報告する。