WEP037 　粒子源　 8月8日 大展示ホール 13:10 - 15:10

ECRイオン源直後のビームパラメータ測定系開発

Development of the beam parameter measurement system right after the ECR ion source

○大崎 一哉，佐古 貴行，小林 伸次（東芝エネルギーシステムズ株式会社），林崎 規託，池田 翔太（東工大）

○Kazuya Osaki, Takayuki Sako, Shinji Kobayashi (Toshiba Energy Systems & Solutions Corporation), Noriyosu Hayashizaki, Shota Ikeda (Tokyo Tech)

ECRイオン源は原子核・素粒子実験用加速器、がん治療装置を始めとするハドロン加速器分野のイオン源として幅広く利用されている。イオン源から出射されたビームはLEBT（Low Energy Beam Transport）、RFQ（Radio Frequency Quadropole）、DTL（Drift Tube Linac）と下流側に輸送されるが、その際イオン源から出射されるビームのパラメータを把握することは下流側の安定したビーム輸送を行う上で重要となる。そこでイオン源直後のビームラメータ測定系の開発を行った。今回の実験では周波数2.45GHzのマイクロ波源で中性ガスのイオン化を行い、引き出したビームを用いてビームパラメータ測定を行った。ビームパラメータ測定結果を報告するとともに、今後の展望を言及する。