SUP085 　ポスターセッション２　 8月4日 豊田講堂２階ロビー 13:00 - 15:00

J-PARC RFイオン源＆RFQ IIIテストスタンドの制御系の構築

Construction of Control System for J-PARC RF Ion Source & RFQ III Test Stand

○福田 真平（三菱電機システムサービス株式会社），澤邊 祐希（日本原子力研究開発機構），鈴木 隆洋，石山 達也，川瀬 雅人（三菱電機システムサービス株式会社），伊藤 雄一，加藤 裕子，吉位 明伸，菊澤 信宏，大内 伸夫（日本原子力研究開発機構）

○Shinpei Fukuta (Mitsubishi Electric System & Service Co., Ltd), Yuki Sawabe (JAEA), Takahiro Suzuki, Tatsuya Ishiyama, Masato Kawase (Mitsubishi Electric System & Service Co., Ltd), Yuichi Ito, Yuko Kato, Akinobu Yoshii, Nobuhiro Kikuzawa, Nobuo Ouchi (JAEA)

J-PARC LINAC は、2014年にセシウム添加高周波駆動負水素イオン源（RFイオン源）のインストールが予定されている。また、同じく2014年に現在のRFQに替えてRFQ IIIへの換装も予定されている。これらの機器のインストールに備えて、現在J-PARC LINAC棟のクライストロン準備室にて、RFイオン源とRFQ IIIの共同のテストスタンドを組み、ビーム加速試験を行うべく準備を進めている。テストスタンドはRFイオン源とRFQ III、それらを繋ぐBTラインで構成されており、合わせて真空機器や四極電磁石、各種ビームモニタが設置されている。 J-PARC制御グループでは、これらテストスタンドが実際に負水素ビームを3MeVまで加速してビームダンプへと導く“加速器”であることから、J-PARC加速器と同等の加速器制御環境が必要であると考え、制御系をデザインした。具体的には、機器を保護する為のMPS（Machine Protection System）の導入や機器を遠隔制御する為のEPICS環境の実装、各加速器構成機器へタイミング信号を送る為のタイミングシステムの構築である。これらに加えてビームラインのCTを監視し過度のビーム電流の発生を制限する為の電流モニタも導入し、安全にビーム加速試験を行えるようにしている。 本発表では、J-PARC LINACにおけるRFイオン源＆RFQ IIIの共同テストスタンドの制御系の構築について報告する。