SAP087 　ポスターセッション１　 8月3日 豊田講堂２階ロビー 13:00 - 15:00

ハローモニタを用いた垂直ビームプロファイルの測定

Measurement of vertical beam profile using halo monitor

○大島 隆，前坂 比呂和，大竹 雄次（理研　放射光科学総合研究センター），松原 伸一（高輝度光科学研究センター），井上 忍（スプリングエイトサービス(株)）

○Takashi Ohshima, Hirokazu Maesaka, Yuji Otake (RIKEN SPring-8 Center), Shin-ichi Matsubara (JASRI), Shinobu Inoue (SPring-8 Service Co., Ltd.)

放射光発生に使用されるアンジュレータの永久磁石は4E14個の高エネルギー電子ビームの照射によって1%の磁力の低下が起こることが報告されている。例えば年間7000時間、60ppsの運転を10年間続けた場合、ハローの電子数を4E14個以下に抑えるためには、1ショット当たり4fC以下に抑える必要がある。X線自由電子レーザー施設SACLAでは、ハローの磁石への照射量を監視するために、ハローモニタがBL３アンジュレータの上流部に設置されている。このモニタでは水平方向に10mm、垂直方向1mmの幅の電極を取り付けた0.3mm厚のダイヤモンドブレードに100Vのバイアス電圧を印加し、電子ビームが通過したときに発生する電子、正孔対の信号を検出している。このハローモニタを使って電子ビームの垂直方向のプロファイルの測定を行った。この測定結果とスクリーンモニタを組み合わせることにより５桁の広いダイナミックレンジに渡って電子ビームの垂直方向のプロファイルを求めることができた。一例として電荷量143pCのビームに対して電子密度がピークの1/10、1/10000となる領域は全幅でそれぞれ0.35mm、1.1mmであった。SACLAではユーザー運転時にY方向の電子密度の広がりが十分に小さいビームが安定に供給されていて、そのハロー成分が1fC以下であることがこのモニタを用いて確認された。