SAP085 　ポスターセッション１　 8月3日 豊田講堂２階ロビー 13:00 - 15:00

あいちシンクロトロン光センターにおけるエミッタンス測定

Measurement of emittance in Aichi synchrotron radiation center

○川上 遼（名大院　工学研究科），真野 篤志，保坂 将人，山本 尚人（名大SRセンター），加藤 政博（名大SRセンター,UVSOR），高嶋 圭史（名大院工学研究科,名大SRセンター,）

○Ryo Kawakami (Master's program in engineering at the Graduate School of engineering, Nagoya University), Atsushi Mano, Masato Hosaka, Naoto Yamamoto (NUSR), Masahiro Kato (NUSR,UVSOR), Yoshihumi Takashima (Master's program in engineering at the Graduate School of engineering, Nagoya University,NUSR)

電子蓄積リングにおいて、ビームエミッタンスの測定は最も重要な診断要素である。ビームエミッタンスを測定するために最も簡便な方法は、可視放射光のイメージングを用いたビームプロファイルモニターである。 愛知県瀬戸市にナノレベルの先端計測分析施設としてあいちシンクロトロン光センター（あいちＳＲ）が建設され、稼働を始めている。本研究では、エミッタンス測定のための第一段階として、あいちSRの電子蓄積リングにおいて、ビーム診断用可視光取り出しビームラインを設計・建設し、放射光をCCDカメラに取り込むことで、水平方向、垂直方向についてそれぞれビームサイズを測定した。垂直方向については、ビームサイズが小さいため、CCDカメラから取り込んだ画像イメージを解析することでは十分な分解能が得られない。そこで、ダブルスリットを用いた干渉系を設計、建設した。ダブルスリットによって出来る干渉縞から干渉度を測定し、そこからビームエミッタンスを得る事が出来た。 またスキュー電磁石の設計、導入を行い、垂直方向のビームエミッタンスの極小化を行う予定である。本発表では最新の実験結果について報告する。