SAP063 　ポスターセッション１　 8月3日 豊田講堂２階ロビー 13:00 - 15:00

KEKB入射器クライストロン電源用PFNコンデンサー寿命試験結果

LIFE-SPAN TEST RESULTS OF THE PFN CAPACITORS FOR THE KEKB INJECTOR LINAC KLYSTRON MODULATORS

○本間 博幸，中島 啓光，明本 光生，設楽 哲夫，道園 真一郎（高エネ研）

○Hiroyuki Honma, Hiromitsu Nakajima, Mitsuo Akemoto, Tetsuo Shidara, Shinichiro Michizono (KEK)

KEKB入射器大電力クライストロン用パルス電源で使用されているPFN用コンデンサーは、重要な高圧部品でありその使用数も多い。現在のコンデンサーはトリスタン加速器の入射器時代に、当時のコンデンサーに不具合が多発したため、25ppsの繰り返しに対して150,000時間以上の設計寿命をもつものとして導入された経緯がある。導入後に直列接続の内部素子数を製品より少なくし、いくつかの過電圧レベルを設定して電圧加速試験を開始した。しかし、過電圧レベルの高い設定（短時間領域）では測定結果（素子の絶縁破壊）が得られていたが、長時間領域では結果が中々得られなかった。最近になり、開始から98,000時間の時点で1.8倍の過電圧レベルのサンプルが壊れ、長時間領域も含めた寿命曲線を描くことができた。設計寿命を大幅に上回る結果が得られた。この報告では、パルス電源でのPFNコンデンサーの使用条件、運転時に不具合を起こした初期のコンデンサーとの設計の違い、そして最近の使用状況についてもあわせて述べる。